现货直销 SANKO 三高长量程测厚探头
SANKO 三高源自日本，专注研发生产膜厚检测仪器。依托电磁、涡流测厚核心技术，推出多款便携式薄膜厚度计及配套传感探头。产品广泛应用于表面处理、精密制造、半导体领域，可无损检测各类金属镀层与薄膜厚度。

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SANKO三高SWT-NEO、SAMAC系列为电磁、涡流双原理薄膜厚度计，是工业无损膜厚检测的常用设备，适配铁基与非铁基金属基材检测，整体机身轻便，适配车间现场检测与实验室精密检测场景。

主机系列参数差异化明显，基础款SWT-NEO支持0-2.00mm测量范围，采用两点校准模式，搭载图形LCD显示，续航可达25小时；SWT-NEOⅡ可存储10条校准曲线、20000组测量数据，SWT-NEOⅢ升级为100条校准曲线，数据存储能力更强；SWT-NEO-BT内置蓝牙模块，支持无线数据传输；SWT-NEO-FN、SWT-N232C主打通用宽量程检测，量程可达0-2.50mm；SAMAC-FN与SAMAC-Pro为进阶机型，测量精度稳定，适配高精度薄膜、镀层检测工况。设备通用精度为0-100μm区间误差±1μm，100μm以上区间误差≤±2%。

配套NEO专用探头规格齐全，涵盖微型、笔式、长量程、深浅测距等类型，铁基、非铁基专用探头可适配不同基材。微型探头适配狭小空间检测，长量程探头可应对厚涂层测量，笔式探头操作便捷，适配精细化检测需求。

该系列设备广泛用于电镀、五金涂装、半导体、精密制造行业，可检测金属表面镀锌、氧化膜、树脂薄膜、防腐衬里等涂层厚度，可满足产线批量抽检、成品质检、来料检测等多种使用场景，适配多工况无损检测需求。